超纳米压痕测试仪

UNHT³ 高精度超纳米压痕测试仪采用(yong)(yong)真(zhen)实力(li)传(chuan)感(gan)器和(he)位移传(chuan)感(gan)器，可(ke)用(yong)(yong)于测量(liang)(liang)材料在纳米尺度下的(de)机械性能。UNHT³ 采用(yong)(yong)特异的(de)主动(dong)表面参比(bi)技(ji)术，消除了热漂移和(he)框架刚度的(de)影响。因(yin)此，非常适用(yong)(yong)于对所有类(lei)型(xing)的(de)材料（包括(kuo)聚合物(wu)、纳米涂层和(he)软组织）进行(xing)原子到(dao)纳米尺度的(de)长时(shi)间测量(liang)(liang)。对于极低(di)或(huo)极温(wen)度下的(de)测量(liang)(liang)，真(zhen)空室版本 (UNHT³ HTV) 适用(yong)(yong)于 -150℃ 至 800℃ 的(de)温(wen)度以(yi)及低(di)至 10-7 mba的(de)真(zhen)空度。

在特别的 Step 表面试(shi)平台上将(jiang)仪器化压痕测试(shi)模块与 划(hua)痕测试(shi)模块 、 纳(na)米摩擦磨损试(shi)验模块 、甚(shen)至(zhi) 原子力显微(wei)镜结合在(zai)一起。

型号: UNHT³  HTV：                    ;              

真空环(huan)境可(ke)更好地控制加热，并(bing)保护压痕(hen)针尖(jian)和(he)样(yang)品免受氧化

全自动程序，可将热漂移降至低位(wei)

从 -150℃ 至(zhi) 800℃ 的可变(bian)温度测试

真空度低(di)至 10-7 mbar

型号: UNHT³  Standard：

环境条件下的测量

从室(shi)温(wen)至 200℃ 的可变(bian)温(wen)度测试

超纳米压痕测试仪关键功能

准确的纳米压痕测试仪

UNHT³ 可(ke)测量他人估(gu)计的结果：两个独立的位(wei)移(yi)和(he)(he)载荷传感器可(ke)真正(zheng)可(ke)靠地控制(zhi)力和(he)(he)压(ya)(ya)入深度。另外，UNHT³ 采用特(te)别的主动表面(mian)参(can)比设(she)(she)计：参(can)考参(can)比针尖记(ji)录样品的表面(mian)位(wei)移(yi)位(wei)置(zhi)，同时针尖压(ya)(ya)痕(hen)完成测量，以此扣除(chu)热漂移(yi)和(he)(he)框架刚度影响。这(zhei)种(zhong)特(te)别的设(she)(she)计支(zhi)持大(da)范围的压(ya)(ya)入位(wei)移(yi)（从几(ji) nm 到(dao)(dao) 100 μm）和(he)(he)压(ya)(ya)入载荷（从几(ji) μN 到(dao)(dao) 100 mN）。

市场上稳定性较高的纳米压痕测试仪

UNHT³ 采用(yong)特别的主动(dong)表面参比技(ji)术和(he)无(wu)(wu)热(re)膨(peng)胀(zhang)的 Zerodur 材质，是市面上一款无(wu)(wu)需任何位移(yi)校正且(qie)热(re)漂(piao)移(yi)低至可忽(hu)略(lve)不计 (10 fm/sec) 的纳(na)米(mi)压痕(hen)测(ce)(ce)试(shi)仪(yi)。凭借(jie)特别的稳定性，UNHT³ 是可用(yong)来(lai)长(zhang)期测(ce)(ce)量蠕变等测(ce)(ce)试(shi)的纳(na)米(mi)压痕(hen)测(ce)(ce)试(shi)仪(yi)。

高效率和测量速度（每小时测量 >600 次(ci)）

借助该仪器特别(bie)的(de)(de)热稳定性，样(yang)品在安装后即(ji)刻便能进行测量，不必(bi)等待(dai)数小时以便其达(da)到热稳定状(zhuang)态。因此(ci)，每天可单独(du)测量许(xu)多样(yang)品。使用(yong)“快(kuai)速点阵(zhen)"模式，每小时可通(tong)过真实的(de)(de)压痕(hen)曲线和 600 多个(ge)压痕(hen)。另外，用(yong)户配置、测量模式、多样(yang)品测量和可定制(zhi)报告也促使其成为市(shi)面上(shang)效率超高的(de)(de)仪器。

通(tong)过“Sinus 动态(tai)测量(liang)模式"进(jin)行其他动态(tai)机械(xie)分析(xi) (DMA)

使(shi)用(yong)集(ji)成的“Sinus 动(dong)态测量模式(shi)"，可以对机械(xie)特(te)性(xing)进(jin)行位(wei)移曲线 DMA 分析（HIT、EIT 对比位(wei)移），并(bing)可测量薄膜到块(kuai)状材(cai)料等样品的粘弹(dan)特(te)性(xing)（E'、E''：储能(neng)和(he)损(sun)耗模量、tan δ）。Sinus 动(dong)态测量模式(shi)还提供其(qi)他功能(neng)，例如压(ya)痕(hen)仪(yi)快(kuai)速校正(zheng)以及应力/应变分析。

在高(gao)真(zhen)空和高(gao)达 800℃ 的高(gao)温下进行测量(liang)

UNHT³ 的(de)(de)(de) HHT 版(ban)本是(shi)一(yi)款配(pei)备全自动(dong)程序的(de)(de)(de)超纳米压(ya)(ya)(ya)痕(hen)仪，可将热(re)(re)(re)漂移降至低位，在整个温(wen)度范围(wei)内实现热(re)(re)(re)漂移<3 nm/min。这是(shi)通过(guo)特(te)别(bie)的(de)(de)(de)加(jia)(jia)热(re)(re)(re)控(kong)制(zhi)系(xi)(xi)统来实现的(de)(de)(de)，该加(jia)(jia)热(re)(re)(re)控(kong)制(zhi)系(xi)(xi)统以(yi) 0.1℃ 的(de)(de)(de)精度同(tong)时控(kong)制(zhi)样品(pin)和(he)压(ya)(ya)(ya)痕(hen)针(zhen)尖(jian)温(wen)度。压(ya)(ya)(ya)痕(hen)软件(jian)控(kong)制(zhi)加(jia)(jia)热(re)(re)(re)和(he)环境条(tiao)件(jian)，并与(yu)系(xi)(xi)统实时交互，以(yi)最大限(xian)度地减少热(re)(re)(re)漂移，并启动(dong)所有(you)所需的(de)(de)(de)测(ce)量(liang)。您可以(yi)计划一(yi)组具(ju)有(you)不(bu)同(tong)温(wen)度步长的(de)(de)(de)任何类型的(de)(de)(de)压(ya)(ya)(ya)痕(hen)（也(ye)可使(shi)用标准 UNHT³），仪器会根据预(yu)设(she)矩阵自动(dong)进行测(ce)量(liang)。